KLA探針式臺階儀P-7
產(chǎn)品概述
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
KLA探針式臺階儀P-7產(chǎn)品描述
P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。
P-7建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了很好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。
KLA探針式臺階儀P-7主要功能
臺階高度:幾納米至1000μm
微力恒力控制:0.03至50mg
樣品全直徑掃描,無需圖像拼接
視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機
圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差
軟件:簡單易用的軟件界面
生產(chǎn)能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化
主要應(yīng)用
臺階高度:2D和3D臺階高度
紋理:2D和3D粗糙度和波紋度
形狀:2D和3D翹曲和形狀
應(yīng)力:2D和3D薄膜應(yīng)力
缺陷復(fù)檢:2D和3D缺陷表面形貌
工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實驗室和研究所
半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體
LED:發(fā)光二極管
太陽能
MEMS:微機電系統(tǒng)
數(shù)據(jù)存儲
汽車
醫(yī)療設(shè)備
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