薄膜厚度測量儀
型 號F32
所屬分類實驗室儀器
報價
更新時間2024-11-05
產(chǎn)品描述：薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
薄膜厚度測量儀在線測量的解決方案
使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本兩個位置）。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機軟件中進行統(tǒng)計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下，它預(yù)裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實現(xiàn)。通過測量樣品的光學(xué)常數(shù)或從現(xiàn)有的來源輸入數(shù)據(jù)，可以快速添加新材料。
薄膜厚度測量儀附加特性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果
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